可变阵列涡流检测仪（VAECT）问世

发布时间：2012-08-01 15:29:00

赵诚报道

　 2012年7月，由爱德森（厦门）电子有限公司独创的世界首台可变阵列涡流检测仪（Various array eddy current testing 简称变阵涡流）问世，仪器具有独创的128通道任意激励/接收变换扫描功能，可根据检测要求随意设置变换扫描法则，可以快速精确检测出任意方向缺陷，单元检测最高精度达到20μm，大大超过了此前业界的30μm极限精度。该功能可进一步扩展至漏磁和磁记忆、声阻抗的点、线、面阵列调控。

这一独创的功能改变了目前业界较为单一的阵列涡流扫描功能，使阵列涡流具有了同超声相控阵一样的可变、多样、多重，形成点、线、面的多频扫描能力，通过变频手段，改变涡流在金属表面的趋肤深度，检测范围、速度、精度都得到了进一步的提高。该功能具有自主知识产权，功能定义也将写入相关国家标准中。

附可变阵列涡流检测术语定义：

可变阵列涡流 various array eddy current

可任意改变点、线、面阵列涡流探头中各阵元线圈激励 / 接收处理方式的一种检测技术。

可变阵列涡流扫描法则 various array eddy current scanning laws

可变阵列涡流检测独有的激励扫描法则。即采用电子切换技术，根据检测要求，控制、改变阵列涡流探头中每个阵元的激励频率、强度、顺序以及滤波参数等。